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高加速应力试验HAST

  简要介绍:加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验

  应用领域:IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等。

  主要仪器:高加速应力(HAST)试验箱。

  参考标准: GB/T 2423.40,IEC 60068-2-66,JESD22-A102等 。

  案例介绍:

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